【大.纪.元;1月23日报导】（中央社巴黎二十三日法新电）科学家今天说，手机内的“用户识别模组”卡（简称SIM卡）处于高达摄氏四百五十度高温仍不会毁损，甚至不怕更高的温度，这项发现有助于调查恐怖攻击与其他犯罪。

SIM卡是手机的心脏，能提供拨打或接获电话的号码与简讯的纪录。

因此如果调查人员想要得到完整无缺的资料，这块由塑胶与硅制成、大小如同指甲的晶片，对他们而言就如同金矿。

举例来说，二零零四年三月十一日造成一百九十一人死亡的马德里列车爆炸案，调查人员从意图引发两枚未爆弹的嫌犯的手机里取得SIM卡，调查工作因此获得突破。

伦敦大学学院的电子工程师琼斯与肯扬进行一项不寻常的研究，让SIM卡接受高温的考验。

研究人员利用酸液，小心剥除镕铸在每片晶片四周的保护性环氧树脂，以暴露出其内部回路。

接着将SIM卡放在高温空气中十分钟，然后冷却，接着研究人员将微型探测器连接至回路，透过介面装置读取晶片内容。

六张SIM卡加热至摄氏一百八十度左右，重新连接线路后仍可读取，资料并未消失。

五张SIM卡则加热至摄氏四百五十度，其中四张研究人员无法读取，但第五张可以短暂读取。

第十二张卡加热至摄氏六百五十度，无法读取。

琼斯与肯扬说，实验证实SIM可以耐得住摄氏四百五十度高温，甚至还可以更高。

他们指出，他们采用重接线路的技术，对于想要研究受损SIM卡的鉴识专家而言，甚至还不是最后手段。

他们可以采取其他高科技资料读取方式，包括研究晶片内部与处理器的连结、监控晶片运转时的耗电，以及利用所谓的电子扫描式探针显微镜，读取SIM卡内部回路主要“通路”的电荷量。